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Journal des Sciences Pour l'Ingénieur -- Vol. 8 (2007): Determination of the origin of failure mechanism involved in the degradation of the threshold voltage of a PMOS FET associated to a lateral PNP bipolar transistor in a I2L test cells. | 27 USD |
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Journal des Sciences Pour l'Ingénieur -- Vol. 8 (2007): Effets des variables opératoires sur la qualité texturale des extrudes de semoule de maïs durant la cuissonextrusion. | 27 USD |
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Journal des Sciences Pour l'Ingénieur -- Vol. 1 No. 1 (2001): Etude de la sensibilité des photoconcucteurs associé à un transistor ô affet de champ | 27 USD |
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| Total: 81 USD | |||
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